回路電阻測(cè)試儀 /接觸電阻測(cè)試儀，是根據(jù)中華人民共和國(guó)最新電力執(zhí)行標(biāo)DL/T845.4-2004，采用高頻開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)而成。它適用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備回路電阻的測(cè)量。其測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)推薦的直流100A和200A。可在電流100A的情況下直接測(cè)得回路電阻，也可以在電流200A的情況下直接測(cè)得回路電阻，最后的測(cè)試結(jié)果都用數(shù)字顯示出來(lái)。該儀器測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定，符合電力、供電部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)高壓開(kāi)關(guān)維修和高壓開(kāi)關(guān)廠回路電阻測(cè)試的要求。

回路電阻的測(cè)量

主回路

為了把做過(guò)溫升試驗(yàn)(型式試驗(yàn))的開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備與所有進(jìn)行出廠試驗(yàn)的同一型號(hào)的開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備進(jìn)行比較，應(yīng)該進(jìn)行主回路電阻的測(cè)量。

應(yīng)用直流測(cè)量每子間的電壓降或電阻。對(duì)于封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備應(yīng)該作特殊考慮(見(jiàn)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn))。

試驗(yàn)電流應(yīng)該取100A至額定電流之間的任一電流值。

注：經(jīng)驗(yàn)表明，僅憑主回路電阻增大不能認(rèn)為是觸頭或聯(lián)結(jié)不好的可靠證據(jù)。此時(shí)，應(yīng)該使用更大的電流(盡可能接近額定電流)重復(fù)進(jìn)行試驗(yàn)。

直流電壓降或電阻應(yīng)在溫升試驗(yàn)前在開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備所處的周?chē)諝鉁囟认逻M(jìn)行一次測(cè)量；溫升試驗(yàn)后，當(dāng)開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備冷卻到周?chē)諝鉁囟葧r(shí)再測(cè)量一次，兩次所測(cè)得的電阻值的差不應(yīng)大于20%。

型式試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出直流電壓降或電阻的測(cè)量值，以及試驗(yàn)時(shí)的一般條件(電流、周?chē)諝鉁囟取y(cè)量部位等)。

輔助回路

1級(jí)和2級(jí)輔助觸點(diǎn)電阻的測(cè)量

將1級(jí)和2級(jí)輔助觸點(diǎn)的每種類(lèi)型的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路，然后加上開(kāi)路電壓為6V(相對(duì)偏差為-15%)的直流電源，使其流過(guò)10mA的電流，按GB/T5095.2-1997的試驗(yàn)2b測(cè)量其電阻。

閉合的1級(jí)和2級(jí)輔助觸點(diǎn)的電阻不應(yīng)超過(guò)50Ω。

注：觸頭材料出現(xiàn)的氧化可能會(huì)降低有效的載流能力，因此可能導(dǎo)致接觸電阻的增加，甚至在非常低的電壓回路中不能導(dǎo)通，而在較高的電壓回路中又沒(méi)有出現(xiàn)問(wèn)題。本試驗(yàn)的目的是為了檢驗(yàn)在這些低電壓條件下觸頭的接觸性能。評(píng)估的判據(jù)考慮了電阻的非線性。50Ω的數(shù)值源于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)并已被用戶(hù)接受。

3級(jí)輔助觸點(diǎn)電阻的測(cè)量

將3級(jí)輔助觸點(diǎn)的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路，然后加上開(kāi)路電壓≤30mV的直流電源，使其流過(guò)≤10mA 的電流，按正C61810-7測(cè)量其電阻。

閉合的3級(jí)輔助觸點(diǎn)的電阻不應(yīng)超過(guò)1Ω。